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Trendgruppierungslösung in der Halbleiter-Backend-Fertigung
Gewinnen Sie tiefere Einblicke in Produktionsdaten mit fortschrittlicher Trendgruppierung und -analyse.
In der Backend-Fertigung von Halbleitern ist die Überwachung der Anlagenleistung und der Bedienereffizienz entscheidend für die Aufrechterhaltung der Produktionsstabilität und die Optimierung des Ertrags. Herkömmliche SPC-Diagramme (Statistical Process Control) konzentrieren sich jedoch in erster Linie auf die Produktqualität und erfassen oft nicht die Abweichungen der Anlagen oder schichtbezogene Schwankungen.
Um diese Einschränkung zu überwinden, benötigen Hersteller eine effizientere Methode zur Gruppierung und Analyse von Produktionsdaten. Dieses Work Smarter-Video zeigt, wie das Trend Grouping Plug-in (TGP) von camLine eine schnellere Ursachenanalyse und Problemlösung mit LineWorks SPACE Chart Plug-ins ermöglicht, indem es die Identifizierung von Trends auf Basis von Schichten, Zeit und Anlagenleistung erleichtert.
Herausforderungen für Halbleiter-Backend-Hersteller bei der Analyse von Produktionsdaten
Produktionsleiter und Prozessingenieure benötigen tiefgreifende, umsetzbare Erkenntnisse, um Prozessineffizienzen und Anlagenanomalien schnell zu erkennen. Herkömmlichen SPC-Tools mangelt es jedoch an Flexibilität, so dass es schwierig ist, Daten nach Schichtmustern, Zeiträumen oder Maschinenleistung zu analysieren. Diese fehlende Möglichkeit der individuellen Datengruppierung verlangsamt die Ursachenanalyse und verzögert Korrekturmaßnahmen.
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Begrenzte Sichtbarkeit der Daten:
Herkömmliche SPC-Diagramme zeigen nur gemessene Daten, aber keinen Zugang zu Logistik und Materialrückverfolgbarkeit.
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Langsame Identifizierung der Grundursache:
Ohne eine geeignete Datengruppierung müssen die Techniker riesige Datensätze manuell durchforsten, was Korrekturmaßnahmen verzögert.
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Fragmentierte Datenquellen:
Produktionsdaten sind oft über mehrere Systeme verstreut, z. B. über Geräteprotokolle, Prüfberichte und Bedieneraufzeichnungen, was zu Inkonsistenzen und Ineffizienz führt.
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Schwierigkeiten beim Vergleich von Trends im Zeitverlauf:
Ohne effiziente Trendvisualisierungstools haben Hersteller Schwierigkeiten, historische Leistungen zu verfolgen und allmähliche Prozessveränderungen zu erkennen.
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Komplexe Datenanalyse-Tools:
Viele bestehende Lösungen erfordern technisches Fachwissen, um Daten zu konfigurieren und zu interpretieren, was es für Ingenieure schwierig macht, Echtzeitanalysen ohne IT-Unterstützung durchzuführen.
Die Lösung: Bessere Datenanalyse mit dem LineWorks SPACE Charts Trend Grouping Plug-in (TGP)
Das Trend Grouping Plug-in (TGP) von camLine bietet eine leistungsstarke Möglichkeit zur Analyse von Produktionsdaten, indem es Herstellern erlaubt, Daten auf Basis von Schichten, Zeiträumen oder Anlagenleistung zu gruppieren. Dies ermöglicht eine schnellere Identifizierung von Mustern, die von traditionellen SPC-Tools oft übersehen werden.
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Segmentieren und visualisieren Sie Daten nach Schichten, Zeiträumen oder Geräten, um Anomalien zu erkennen.
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Nutzen Sie mehrere Diagrammtypen (Boxplots, Balkendiagramme), um Leistungstrends auf einen Blick zu erkennen.
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Vereinfachen Sie die Datenanalyse mit einer intuitiven, programmierfreien Schnittstelle, die allen Benutzern erweiterte Einblicke gewährt.
Wie LineWorks SPACE Charts die Einblicke in die Halbleiterfertigung verbessern
Die LineWorks SPACE Charts Plug-ins, insbesondere das Trend Grouping Plug-in (TGP), verändern die Datenanalyse im Halbleiter-Backend durch:
Beschleunigte Identifizierung von Ursachen
Ingenieure können schnell feststellen, ob Produktionsprobleme auf Bedieneraktionen, Gerätefehlfunktionen oder Materialinkonsistenzen zurückzuführen sind.
Verbesserte Produktionsüberwachung
Manager erhalten in Echtzeit Einblick in Trends über Schichten und Zeiträume hinweg und können so eine kontinuierliche Prozessverbesserung sicherstellen.
Vereinfachung datengestützter Entscheidungen
Die benutzerfreundliche Schnittstelle macht die manuelle Datenverarbeitungüberflüssig, so dass sich die Ingenieure auf die Prozessoptimierung und nicht auf die Fehlersuche konzentrieren können.
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